X熒光光譜儀是什么?

X熒光光譜儀（RoHS檢測(cè)儀器）由激發(fā)源（X射線管）、高壓電源、探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。

工作原理

X光管發(fā)射的X射線，經(jīng)過(guò)濾光片后，X射線的背景射線被濾光片吸收而減弱，然后經(jīng)準(zhǔn)直器變成平行光束，照射在樣品上．樣品受到激發(fā)，隨即產(chǎn)生含有被測(cè)元素的特征X射線熒光的復(fù)合光束．再經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直器的準(zhǔn)直進(jìn)入半導(dǎo)體探測(cè)器，探測(cè)器本身具有能量分辨能力，可以甄別樣品所有發(fā)射的不同能量特征的X射線熒光，探測(cè)器輸出的信號(hào)經(jīng)放大器的放大后進(jìn)入運(yùn)算裝置，由于探測(cè)器輸出的信號(hào)與入射的X射線熒光的能力成正比，因此可以得到定性、定量分析的能量譜圖。

X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：

波長(zhǎng)色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)

波長(zhǎng)色散型（WD-XRF）

元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(zhǎng)的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：

λ=K(Z? s)?2

式中K和S是常數(shù)。

能量色散型（ED-XRF)

元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，產(chǎn)生能量差

X ray

△E= E1–E0=Kα

因此,只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng)或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。